Lim, Jae-Geun: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (8)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

[IEEE 2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits - Honolulu, HI, USA (2020.6.16-2020.6.19)] 2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits - A Single-Trim Switched Capacitor CMOS Bandgap Reference with a 3Ï Inaccuracy of +0.02%, â0.12% for Battery Monitoring Applications

Boo, Jun-Ho, Cho, Kang-Il, Kim, Ho-Jin, Lim, Jae-Geun, Kwak, Yong-Sik, Lee, Seung-Hoon, Ahn, Gil-Cho

Рік:

2020

Файл:

PDF, 301 KB

2020

2

Serum Vitamin D Status and Its Relationship to Metabolic Parameters in Patients with Type 2 Diabetes Mellitus

Yu, Jung Re, Lee, Sang Ah, Lee, Jae-Geun, Seong, Gil Myeong, Ko, Seong Joo, Koh, Gwanpyo, Kong, Mi-Hee, Park, Keun-Young, Kim, Byung-Joon, Lim, Dong-Mee, Lee, Dae Ho

Журнал:

Chonnam Medical Journal

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 381 KB

english, 2012

3

Preparation of porous BaTiO3-based ceramics by high-energy ball-milling process

Jun-Gyu Kim, Jae-Geun Ha, Tae-Whan Lim, Kyeongsoon Park

Журнал:

Materials Letters

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 397 KB

english, 2006

4

A case study on fibrous porous SnO2 anode for robust, high-capacity lithium-ion batteries

Hwang, Soo Min, Lim, Young-Geun, Kim, Jae-Geun, Heo, Yoon-Uk, Lim, Jun Hyung, Yamauchi, Yusuke, Park, Min-Sik, Kim, Young-Jun, Dou, Shi Xue, Kim, Jung Ho

Журнал:

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.98 MB

english, 2014

5

[IEEE 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. - Phoenix, AZ, USA (25-29 April 2004)] 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings - Impact of gate sidewall spacer structures on DRAM cell transistors under Fowler-Nordheim and gate-induced drain leakage stress conditions

Kwan-Yong Lim,, Se-Aug Jang,, Yong Soo Kim,, Heung-Jae Cho,, Jae-Geun Oh,, Su-Ock Chung,, Sung-Joon Lee,, Woo-Kyung Sun,, Jai-Bum Suh,, Hong-Seon Yang,, Hyun-Chul Sohn,

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 300 KB

english, 2004

6

[IEEE ESSDERC 2007 - 37th European Solid State Device Research Conference - Muenchen, Germany (2007.09.11-2007.09.13)] ESSDERC 2007 - 37th European Solid State Device Research Conference - Low resistive tungsten dual polymetal gate process for high speed and high density memory devices

Yong Soo Kim,, Kwan-Yong Lim,, Min-Gyu Sung,, Soo-Hyun Kim,, Hong-Seon Yang,, Heung-Jae Cho,, Se-Aug Jang,, Jae-Geun Oh,, Kwangok Kim,, Young-Kyun Jung,, Tae-Woo Jung,, Choon-Hwan Kim,, Do

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 918 KB

english, 2007

7

[IEEE Proceedings of the 34th European Solid-State Device Research Conference - Leuven, Belgium (21-23 Sept. 2004)] Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04EX850) - A novel method for forming gate spacer and its effects on the W/WN/sub x//poly-Si gate stack

Yong Soo Kim,, Kwan-Yong Lim,, Jae-Geun Oh,, Se-Aug Jang,, Heung-Jae Cho,, Jun-Mo Yang,, Jai-Bum Suh,, Su-Ock Chung,, Soo-Young Park,, Hong-Seon Yang,, Hyun-Chul Sohn,, Jin-Woong Kim,

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 208 KB

english, 2004

8

Degradation of Nitride/W/WN x /Poly-Si Gate Stack by Post-Thermal Processes

Cho, Heung-Jae, Jang, Se-Aug, Kim, Yong Soo, Lim, Kwan-Yong, Oh, Jae-Geun, Lee, Jung-Ho, Park, Tae-Su, Back, Tae-Sun, Yang, Jun-Mo, Yang, Hong-Seon, Sohn, Hyun-Chul, Kim, Jin-Woong

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.64 MB

english, 2005